第72回 診療放射線技師国家試験 問98

解説

表面汚染の測定方法はJIS（日本産業規格）に規定されているため、これが正しい。 間接測定法（スミア法）は拭き取りによる遊離性（非固着性）汚染の測定に適し、直接測定法は固着性を含む全汚染の測定に適するので、選択肢の組合せは逆である。 表面密度限度以下というだけで管理区域外へ持ち出してよいわけではなく、持出基準は別に定められている。 α線を放出する核種の表面密度限度は4 Bq/cm^2であり、40 Bq/cm^2はβ・γ核種の値である。 よって正しいのは表面汚染測定がJISに規定されていることである。